8月1日,《儿童与青少年医学文献》(Arch Pediatr Adolesc Med.)在线发表的一项前瞻性队列研究发现,孕期母体暴露于高磁场(MF)水平可能增加后代罹患哮喘危险。
研究人员De-Kun Li等检测了来自美国圣弗兰西斯科北加州孕妇的MF暴露水平,并对其产后子女(n=626)进行了哮喘临床诊断(随访时间为13年)。
经校正潜在的混淆因素后,研究人员发现,孕期母体每日MF暴露水平(中位值)的增加与后代哮喘危险的增加存在线性剂量效应关系(具统计学意义):孕期母体MF暴露水平每增加1mG,将伴随着后代哮喘率增加15%【校正风险比(aHR)1.15】。对于确定(categorical)的MF水平,结果显示存在类似的剂量效应关系:对于母亲孕期MF暴露水平高(>2.0 mG)的儿童,其哮喘率的增加是母亲孕期MF暴露水平低(中位24小时MF水平≤0.3 mG)的儿童的3.5倍(aHR 3.52),而母亲具有中等MF暴露水平(>0.3-2.0mG)的儿童,其哮喘率增加为74%(aHR 1.74)。研究人员还观察到MF效应与母体哮喘史及出生次序(头胎)间存在协同作用(具统计学意义)。
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